走査プローブ顕微鏡

本装置は、試料表面の微細な凹凸や物性をナノスケールで可視化できる、走査プローブ顕微鏡です。探針によって表面を高精度に走査し、非破壊かつ高分解能での観察を可能とします。AFMをはじめとした多様な測定モードに対応し、ポリマーや薄膜、半導体材料など広範な分野での応用が可能です。