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過去のお知らせ


2018年度
2019年03月08日
2019年03月01日
2019年02月20日
2019年01月22日
2018年10月02日
2018年08月29日
2018年08月27日
2018年08月24日
2018年06月18日
2018年06月11日
2018年05月31日
2018年05月18日
2018年04月02日
2018年04月01日

第38回機器分析講座「ガスクロマトグラフ質量分析装置の基礎」を開催しました
先端機器分析センターを利用した 学外利用者の論文が学術雑誌に掲載されました
分析事例: 剥離紙断面のSEM観察を公開しました
第38回機器分析講座「ガスクロマトグラフ質量分析装置の基礎」を開催します
停電復旧に伴い、機器利用を再開します
先端機器分析センターを利用した 論文が学術雑誌に掲載されました
分析事例: 薄膜X線回折法による高分子薄膜の評価を公開しました
第37回機器分析講座「金型・金属材料の開発と歪・破壊解析」を開催しました
先端機器分析センターを利用した 論文が学術雑誌に掲載されました
分析事例: 核磁気共鳴装置を用いた水の17O-NMR 測定を公開しました
起動時トラブルのため、分光蛍光光度計F2000の利用を停止します。代替装置は、プレートリーダーです。
分析事例: フォトルミネッセンス分光分析装置による高分子薄膜のラマンマッピング測定を公開しました
PL装置のレーザー出力が外部制御可能となりました
平成29年度 利用報告書を掲載しました
2017年度
2018年03月02日
2018年02月16日
2018年02月08日
2017年12月07日
2017年11月16日
2017年09月28日
2017年09月25日
2017年08月25日
2017年08月23日
2017年08月17日
2017年06月09日
2017年04月29日
2017年04月12日
2017年04月06日
2017年04月03日
2017年04月01日

第36回機器分析講座「高分子による生体関連センサーの開発とIoT 社会への貢献」を開催しました
分析事例: 走査プローブ顕微鏡E-sweepによるアルミニウム蒸着膜の膜厚測定を公開しました
真空蒸着装置を立ち上げました
分析事例: 核磁気共鳴装置および赤外分光光度計を用いた有機混合液体の分析を公開しました
第35回 マイクロアナリシス研究懇談会で発表を行いました
その他: SEM-EDS元素マッピングデータのテキスト変換プログラムを公開しました
分析事例: X線反射率法による金薄膜の膜厚測定を公開しました
第36回機器分析講座「金型・金属加工における表面分析技術」を開催しました
EPMAの利用を再開します
起動時トラブルにより、EPMAの利用を停止します。利用再開日は未定です。
浜松工業技術支援センター主催の研究・開発成果発表会で研究発表を行いました
分析事例: ヘッドスペース分析装置によるインスタントコーヒーの香気成分分析を公開しました
分析事例: EPMAを用いた金属酸化物中の微量元素測定を公開しました
その他: 10MHz帯域のCWNMRの制作を公開しました
その他: SEM-EDSデータのテキスト変換ソフトを公開しました
平成28年度 利用報告書を掲載しました
2016年度
2017年02月20日
2017年02月20日
2017年01月24日
2017年01月20日
2017年01月18日
2016年12月22日
2016年09月30日
2016年09月11日
2016年09月09日
2016年08月05日
2016年07月07日
2016年06月29日
2016年06月20日
2016年06月20日
2016年06月14日
2016年06月14日
2016年06月06日
2016年06月01日
2016年05月23日
2016年05月10日
2016年04月22日
2016年04月19日
2016年04月01日
2016年04月01日

ガスクロマトグラフ質量分析装置を更新しました
走査型電子顕微鏡を更新しました
分析事例:粉体のSEM観察における試料調整方法の検討を掲載しました
第34回機器分析講座「有機溶媒試料のICP分析」を開催しました
分析事例:示差走査熱量計による金の比熱容量測定を掲載しました
先端機器分析センター学術講演会「シリコン結晶育成と格子欠陥評価」を開催しました
第一回先端機器分析センター・セミナー「構造相転移」を開催します
分析事例: 硫酸銅五水和物単結晶におけるg因子の主値と主軸を掲載しました
第33回機器分析講座「無機材料の状態分析とマッピング解析」を開催しました
ICPの利用を再開しました
高圧電源トラブルのため、ICPの利用を停止します。利用再開日は未定です。
分析事例:電気的検出磁気共鳴装置(EDMR)の構築を掲載しました
分析事例:走査プローブ顕微鏡E-sweepによる磁性材料の磁気力像観察を掲載しました
分析事例:走査プローブ顕微鏡E-sweepによる酸化インジウムスズ(ITO)膜の表面形状像観察を掲載しました
分析事例:ガスクロマトグラフ質量分析装置による微量成分の定量測定を掲載しました
分析事例:示唆走査熱量計による氷の融解熱測定を掲載しました
2016年06月08日 GCMSの利用を再開しました
GCMS制御用PCがダウンしました。利用再開日は未定です
分析事例:EPMAを用いた鉄鋼材料断面の炭素および窒素分布の測定を掲載しました
放射性同位元素等取扱講習会を開催しました
4年生向け 紫外可視分光光度計講習会を開催しました
先端機器分析センターが中部経済産業局ガイドブックに掲載されました
4年生向け機器講習会を始めました
平成27年度 利用報告書を掲載しました
2015年度
2016年03月01日
2016年01月19日
2015年12月04日
2015年11月26日
2015年10月08日
2015年08月28日
2015年07月30日

第32回機器分析講座を開催しました
示差走査熱量計(DSC-60 Plus, Shimadzu)を更新しました
分析事例:破断原因の究明を掲載しました
第31回機器分析講座を開催しました
分析事例:シリコン塗布量の測定を掲載しました
第30回機器分析講座を開催しました
その他:霧箱を用いた放射線の観測を掲載しました
2014年度
2014年11月26日
2014年08月28日

第29回機器分析講座を開催しました
第28回機器分析講座を開催しました
2013年度
2014年03月11日
2013年08月29日

第27回機器分析講座を開催しました
第26回機器分析講座を開催しました
2012年度
2013年03月01日
2012年08月27日
2012年07月31日

第25回機器分析講座を開催しました
第24回機器分析講座を開催しました
第23回機器分析講座を開催しました
2011年度
2011年05月17日
2011年04月01日
2011年03月17日

ホームページを更新しました
機器センターが先端機器分析センターとなりました
先端機器分析センター棟の竣工式が行われました