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ホーム > 先端機器分析センター > 利用の手引き

利用の手引き


利用申請

先端機器分析センターを利用する場合は原則として予約が必要です。
本学の学生 指導教員の許可を得た後、センター(内線677)に連絡して下さい。
本学の卒業生 機器使用料の卒業生割引制度があります。
小、中、高校教職員 利用を支援します。ご相談下さい。
企業の利用希望者 利用状況の確認と予約が必要です。ご相談下さい。
まずは先端機器分析センター(TEL:0538-45-0175, E-mail:kiki@sist.ac.jp)まで御連絡下さい。

利用案内と利用料金

どの様なことに使える装置があるか?

試料を拡大観察したい場合

電子線マイクロアナライザー(EPMA):サブミクロン領域の観察と0.001wt%~100%の濃度分析ができる
走査型電子顕微鏡(SEM):表面を最大2万倍まで拡大して観察できる
走査プローブ顕微鏡(SPM):表面のナノメートルサイズの構造まで観察できる

試料の元素分析をしたい場合

走査型電子顕微鏡(SEM):Na~Uの範囲の元素分析(定量)ができる
蛍光X線分析装置(FX):C~Uの範囲の元素分析(定性)ができる
誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP):ppb~ppmの微量成分の定性と定量ができる

試料の構造解析をしたい場合

簡易型X線回折装置(MiniFlex):固体、粉末、薄膜などの結晶構造の解析ができる
粉末X線回折装置(XRD):固体、粉末、薄膜などの結晶構造の解析ができる
単結晶構造解析装置(XDC):単結晶試料の結晶構造の解析ができる
核磁気共鳴装置(NMR):有機化合物の化学構造の解析ができる
質量分析装置(MS):化合物の化学構造の解析ができる

試料の熱分析をしたい場合

示差走査熱量計(DSC):融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
示差走査カロリメーター(Pyris1):融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
示差熱天秤・質量分析同時測定装置(TG-DTA/MS):熱分離した量や同定ができる

試料の磁気特性を測りたい場合

振動試料型磁力計(VSM):ヒステリシス特性、キュリー点などの磁気特性を測定できる

製品に付着・混入した異物の分析

フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)、走査型電子顕微鏡(SEM)

食品関係の分析

アミノ酸分析計、プレートリーダー、イメージアナライザー、リアルタイムPCR、キャピラリDNAシーケンサ

その他

フォトルミネッセンス分光装置(PL)、電子スピン共鳴装置(ESR)、可視紫外分光光度計(UV)、分光蛍光光度計、旋光計、環境放射線計測装置など