多目的Ｘ線回折装置
本装置は、試料にX線を照射し、回折パターンを測定することで物質の結晶構造を分析するX線回折装置です。粉末試料の定性分析はもちろん、薄膜・バルク材料の結晶性評価、残留応力・格子定数測定、結晶方位解析など、さまざまな測定モードに対応しています。
| 仕様 | |
| 型名 | SmartLab (リガク) |
| X線発生部 | 定格出力 3kW, Cuターゲット |
| 入射光学系 | 集中法, 平行法 |
| 受光光学系 | ソーラースリット, Ge2結晶 |
| 検出器 | シンチレーションカウンタ, 一次元半導体検出器 |
| 測定の種類 | 2θ-θ, 薄膜法, ロッキングカーブ, 極点, 反射率, 小角散乱など |
| 付属装置 | オートサンプラー、温度制御装置 |