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先端機器分析センター

蛍光X線分析装置


本装置は、試料にX線を照射し、発生する蛍光X線を測定することで、試料中の元素を定性・定量分析できる蛍光X線分析装置です。リガク社製 ZSX PrimusIIは、波長分散型(WDX)方式を採用しており、主成分から微量成分まで高精度な分析が可能です。
仕様
型名 ZSX Primus II
(リガク)
X線発生部 定格出力 4kW, Rhターゲット
測定可能元素 5B ~ 92U
付属装置 ・マッピング装置, 分解能:100 μm
・ブリケットプレス MP-35
・振動ミル TI-100