平成24年7月27日(金)に、第23回機器分析講座が開催されました。
テーマは、「粉末Ｘ線回折の基礎」で㈱リガクの久保副センター長をお招きしてX線回折による測定・解析について、基礎から応用事例について紹介しました。すでに今年の3月、「薄膜Ｘ線解析の基礎」と題してX線関係の講座を実施しており、この装置で今年2回目の講座です。今回は、基礎、粉末X線回折測定、小角散乱測定、リートベルト解析法について講義と実習を行いました。

小角散乱測定は試料中に分散した微小異物の粒径等を評価する手法で、1から100nmサイズの微粒子の平均粒径を比較的簡単に測定できることが講義と実習で示されました。
リートベルト解析とは既知の結晶構造情報をもとに最少二乗法とシュミレーションを使い、粉末Ｘ線回折データから実試料の結晶構造を精密に求める手法です。粉末Ｘ線回折データから結晶構造パラメータを精密化し、結晶構造を求め、電子密度分布を出力する手順が説明されました。