利用の手引き
利用申請
先端機器分析センターを利用する場合は原則として予約が必要です。
本学の学生 | 指導教員の許可を得た後、センター(内線677)に連絡して下さい。 |
本学の卒業生 | 機器使用料の卒業生割引制度があります。 |
小、中、高校教職員 | 利用を支援します。ご相談下さい。 |
企業の利用希望者 | 利用状況の確認と予約が必要です。詳細は、以下の利用案内をご参照ください。 |
以下の利用料金と利用案内をご参照の上、先端機器分析センター(TEL:0538-45-0175, E-mail:kiki@sist.ac.jp)まで御連絡下さい。
どの様なことに使える装置があるか?
試料を拡大観察したい場合
電子線マイクロアナライザー(EPMA):サブミクロン領域の観察と0.001wt%~100%の濃度分析ができる
走査型電子顕微鏡(SEM):表面を最大2万倍まで拡大して観察できる
走査プローブ顕微鏡(SPM):表面のナノメートルサイズの構造まで観察できる
試料の元素分析をしたい場合
走査型電子顕微鏡(SEM):B~Uの範囲の元素分析 (定量) ができる
電子線マイクロアナライザー(EPMA):B~Uの範囲の元素分析 (定量) ができる
蛍光X線分析装置(XRF):B~Uの範囲の元素分析 (定性) ができる
誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP):ppb~ppmの微量成分の定性と定量ができる
試料の構造解析をしたい場合
粉末X線回折装置(XRD):固体、粉末、薄膜などの結晶構造の解析ができる
核磁気共鳴装置(NMR):有機化合物の化学構造の解析ができる
ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC-MS):有機化合物の化学構造の解析ができる
試料の熱分析をしたい場合
熱流束型示差走査熱量計(DSC):融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
入力補償型示差走査熱量計(Pyris1):融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
示差熱天秤・質量分析同時測定装置(TG-DTA/MS):熱分離した量や同定ができる
試料の磁気特性を測りたい場合
カー効果顕微鏡 (MOKE): 試料の磁区を観察できる
磁気力顕微鏡 (MFM): 試料の磁区を観察できる
製品に付着・混入した異物を分析したい場合
フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR):有機物に含まれている官能基の種類がわかる
走査型電子顕微鏡(SEM):どのような元素が含まれているか調べることができる
食品関係の分析を行いたい場合
プレートリーダー: 微量多種試料の分光特性を測定できる
イメージアナライザー: 微弱発光を検出し、イメージ処理できる
リアルタイムPCR: 高速に遺伝子片を増殖させ、感度良くDNAを検出する
吸収・発光の分析を行いたい場合
紫外可視分光光度計 (UV-vis): 試料が吸収する光の波長がわかる
フォトルミネッセンス分光装置(PL): 試料の発光波長がわかる
蛍光量子収率測定装置 (PLQY): 発光の強さがわかる
その他
電子スピン共鳴装置(ESR): ラジカル種の有無、性質がわかる
旋光計: 光学異性体の有無、旋光度がわかる
環境放射線計測装置: 環境中の放射線量がわかる