利用の手引き
利用申請
先端機器分析センターを利用する場合は原則として予約が必要です。
| 本学の学生 | 指導教員の許可を得た後、センター（内線677）に連絡して下さい。 |
| 本学の卒業生 | 機器使用料の卒業生割引制度があります。 |
| 小､中､高校教職員 | 利用を支援します。ご相談下さい。 |
| 企業の利用希望者 | 利用状況の確認と予約が必要です。詳細は、以下の利用案内をご参照ください。 |
以下の利用案内をご参照の上、先端機器分析センター（TEL：0538-45-0175, E-mail:kiki＠sist.ac.jp）まで御連絡下さい。
利用案内と利用料金
どの様なことに使える装置があるか？
試料を拡大観察したい場合
電子線マイクロアナライザー（EPMA）：サブミクロン領域の観察と0.001wt%～100%の濃度分析ができる
走査型電子顕微鏡（SEM）：表面を最大2万倍まで拡大して観察できる
走査プローブ顕微鏡（SPM）：表面のナノメートルサイズの構造まで観察できる
試料の元素分析をしたい場合
走査型電子顕微鏡（SEM）：B～Uの範囲の元素分析(定量)ができる
電子線マイクロアナライザー（EPMA）：B～Uの範囲の元素分析(定量)ができる
蛍光X線分析装置（XRF）：B～Uの範囲の元素分析(定性)ができる
誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ICP）：ppb～ppmの微量成分の定性と定量ができる
試料の構造解析をしたい場合
簡易型X線回折装置（MiniFlex）：固体、粉末、薄膜などの結晶構造の解析ができる
粉末X線回折装置（XRD）：固体、粉末、薄膜などの結晶構造の解析ができる
核磁気共鳴装置（NMR）：有機化合物の化学構造の解析ができる
質量分析装置（MS）：化合物の化学構造の解析ができる
試料の熱分析をしたい場合
熱流束型示差走査熱量計（DSC）：融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
入力補償型示差走査熱量計（Pyris1）：融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
示差熱天秤・質量分析同時測定装置（TG-DTA/MS）：熱分離した量や同定ができる
試料の磁気特性を測りたい場合
試料共振型高感度磁力計（RSM）：ヒステリシス特性、キュリー点などの磁気特性を高感度測定できる
製品に付着・混入した異物の分析
フーリエ変換赤外分光光度計（FTIR）：有機物に含まれている官能基の種類がわかる
走査型電子顕微鏡（SEM）：どのような元素が含まれているか調べることができる
食品関係の分析
プレートリーダー、イメージアナライザー、リアルタイムPCR
その他
フォトルミネッセンス分光装置（PL）、電子スピン共鳴装置（ESR）、可視紫外分光光度計（UV）、分光蛍光光度計、旋光計、環境放射線計測装置など