利用の手引き
利用申請
先端機器分析センターを利用する場合は原則として予約が必要です。
| 本学の学生 | 指導教員の許可を得た後、センター（内線677）に連絡して下さい。 |
| 本学の卒業生 | 機器使用料の卒業生割引制度があります。 |
| 小､中､高校教職員 | 利用を支援します。ご相談下さい。 |
| 企業の利用希望者 | 利用状況の確認と予約が必要です。詳細は、以下の利用案内をご参照ください。 |
以下の利用料金と利用案内をご参照の上、先端機器分析センター（TEL：0538-45-0175, E-mail:kiki＠sist.ac.jp）まで御連絡下さい。
どの様なことに使える装置があるか？
試料を拡大観察したい場合
電子線マイクロアナライザー（EPMA）：サブミクロン領域の観察と0.001wt%～100%の濃度分析ができる
走査型電子顕微鏡（SEM）：表面を最大2万倍まで拡大して観察できる
走査プローブ顕微鏡（SPM）：表面のナノメートルサイズの構造まで観察できる
試料の元素分析をしたい場合
走査型電子顕微鏡（SEM）：B～Uの範囲の元素分析 (定量) ができる
電子線マイクロアナライザー（EPMA）：B～Uの範囲の元素分析 (定量) ができる
蛍光X線分析装置（XRF）：B～Uの範囲の元素分析 (定性) ができる
誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ICP）：ppb～ppmの微量成分の定性と定量ができる
試料の構造解析をしたい場合
粉末X線回折装置（XRD）：固体、粉末、薄膜などの結晶構造の解析ができる
核磁気共鳴装置（NMR）：有機化合物の化学構造の解析ができる
ガスクロマトグラフ質量分析装置（GC-MS）：化合物の化学構造の解析ができる
試料の熱分析をしたい場合
熱流束型示差走査熱量計（DSC）：融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
入力補償型示差走査熱量計（Pyris1）：融点、エンタルピーなど熱特性を測定できる
示差熱天秤・質量分析同時測定装置（TG-DTA/MS）：熱分離した量や同定ができる
試料の磁気特性を測りたい場合
カー効果顕微鏡 (MOKE)： 試料の磁区を観察できる
磁気力顕微鏡 （MFM）： 試料の磁区を観察できる
製品に付着・混入した異物の分析
フーリエ変換赤外分光光度計（FTIR）：有機物に含まれている官能基の種類がわかる
走査型電子顕微鏡（SEM）：どのような元素が含まれているか調べることができる
食品関係の分析
プレートリーダー: 微量多種試料の分光特性を測定できる
イメージアナライザー: 微弱発行を検出し、イメージ処理できる
リアルタイムPCR: 高速に遺伝子片を増殖させ、感度良くDNAを検出する
吸収・発光の分析
紫外可視分光光度計 （UV-vis）: 試料が吸収する光の波長がわかる
フォトルミネッセンス分光装置（PL）: 試料の発光波長がわかる
蛍光量子収率測定装置 （PLQY）: 発光の強さがわかる
その他
電子スピン共鳴装置（ESR）: ラジカル種の有無、性質がわかる
旋光計: 光学異性体の有無、旋光度がわかる
環境放射線計測装置: 環境中の放射線量がわかる